技术编号：19742768
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光器件时延测量方法，尤其涉及一种基于相推法的光器件时延测量方法及装置。背景技术常用的光器件时延测量方法主要有脉冲法、频率扫描干涉法和相推法三种。脉冲法通过观测发射光脉冲与接收光脉冲的时间间隔计算出被测光器件的时延，由于光器件色散会对光脉冲进行展宽，恶化测量精度，因此脉冲法不适合对长光纤等色散量较大的光器件进行精确测量。此外，窄脉冲的频谱范围较宽，在测量通带范围较小的光器件时，无法全部通过，进而恶化测量精度(例如：超密集波分复用器、光控时延芯片等)。脉冲法存在着许多不可避免的误差，如...
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