技术编号:19747670
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及存储设备技术领域,尤其涉及一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质。背景技术在对双rank(dualrank)内存条例如ddr生产测试过程中,常常使用主板来进行内存条测试。但是当一个双rank内存条在一块主板上测试报错时,cpu只会记录发生故障的逻辑地址,对于同一个双rank内存条,在不同rank上相对应位置的内存颗粒出现故障时,cpu发送的逻辑地址中的行、列、bank对应的值都相同,只有rank对应的值不同,现有技术中同一个双rank内存条的两个rank分别对应的值是未...
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