技术编号:19792790
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。相关申请的交叉引用本申请要求于2017年4月11日提交的标题为“on-chipbiascalibrationformicrobolometerdetectorsandreadoutintegratedcircuits(用于微测热辐射计检测器的片上偏置校准和读出集成电路)”的美国临时申请no.62/484,109的优先权和权益,在此通过引用整体并入本文。背景技术1.技术领域本说明书涉及用于自校准基于微测热辐射计的成像传感器的方法和设备。2.相关技术诸如相机之类的设备与基于微测热辐射计的成像传感器之...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。