技术编号：19857386
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光波长的试验装置技术领域，具体为一种用双缝干涉测量光波长的试验装置。背景技术用双缝干涉测量光的波长。通过测量双缝间距、条纹间距、双缝到光屏间距，利用条纹间距公式定量测量光的波长。传统的实验仪器在教学过程中存在着一些操作困难：实验操作上，不便于调节光路，干涉图样不清晰；研究过程中，师生不能同时观察到测量头情况，不便于交流；实验精度上,在测量条纹间距时，人为确定条纹的中间位置，具有一定的偶然性；效果局限，学生只能观察到光屏上的干涉图样，缺乏对干涉图样的立体感受。实用新型内容本实用新型的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。