技术编号：20159869
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及成像声纳系统领域，特别涉及一种近场的快速下视合成孔径三维成像方法。背景技术下视合成孔径三维成像技术是一种基于合成孔径技术新的三维成像体制，该技术不仅具有与传统侧视合成孔径成像声纳的方位向的高分辨率，并具有目标深度向测量的能力。该成像体制在声波传播方向(深度向)和方位向(沿航向)可以通过脉冲压缩和合成孔径技术获得高分辨成像，但跨航向分辨能力受到接收阵长度的限制，通过增加跨航向接收阵的长度可以有效提高跨航向分辨率，但其系统实现的难度、复杂度和成本均会急剧增加。解决这一困难的有效方法包括跨航...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。