技术编号:20274121
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种组分测定方法,特别是涉及一种定量测定物理混合物的组成及其含量的方法、装置和系统。背景技术电子探针分析(electronprobemicroanalysis,epma)是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征x射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针x射线显微分析。电子探针分析可以实现对粉末样品中单个微米级固体颗粒的化学成分分析。x射线荧光分析(x-rayfluorescenceanalysis,xrf)是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样...
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