技术编号：20274997
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种系统，具体地，涉及一种可以自动化量测天线的半球面辐射场型的系统。后台技术参阅图1，传统技术的天线量测系统是在电波暗室11中安装一个高指向性天线12及旋转基座13，再将待测天线14放在旋转基座13上，旋转基座13具有绕着z轴360度旋转的功能，高指向性天线12具有人工手动调整绕着x轴±90度旋转的功能。高指向性天线12与待测天线14分别用来接收和发射电磁波，并藉由旋转基座13连动待测天线14绕着z轴360度旋转一圈而量得xy平面的二维辐射场型。这种技术的缺点在于：需人工手动调整高指向...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。