技术编号:20516314
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开的实施例涉及图像处理技术领域,具体涉及用于生成半导体检测报告的方法及装置。背景技术半导体在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用,深刻影响着现代人类的生活。随着智能制造新时代的到来,半导体质量显得愈加重要。但是,目前的制造水平使得半导体仍有不少缺陷,甚至包含大量杂质。半导体如果含有杂质,则其周期场被破坏。在杂质周围将形成局部量子态,对应的能级将处于禁带。这些缺陷和杂质直接影响到半导体的运行效能及寿命。而对半导体质量的检测,目前还主要由人工来完成,并由人工完成半导体的检测报告。发明内容...
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