技术编号：20582231
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于生物特征识别领域，具体涉及一种cis芯片动态坏点处理方法及cis芯片动态坏点处理系统。背景技术由于cis芯片上pixel阵列存在工艺偏差及缺陷，因此会造成pixel上部分像素显示错误，这些有缺陷的pixel点即为图像坏点(badpixel)。对于不同工艺、不同厂家，尤其对于一些低成本、消费类的sensor来说，坏点数会在长时间、高温环境下变得越来越多，严重影响到了sensor产品的使用效果、使用寿命。引起坏点的原因：①工艺方面：foundry工艺能力、制造过程中灰尘等因素；长时间、高温...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。