技术编号:20675795
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于集成电路测试领域,涉及一种数模混合微系统dac/adc单元回环测试系统。背景技术随着武器装备、空间系统和飞行器的小型化、低功耗和高可靠的需求日益强烈,采用分立电路单独封装,再进行板级互连的架构,无法满足新一代航天系统小体积、高精度、高密度、高可靠性的需求。集成dac/adc以及fpga等功能的数模混合微系统已成为该领域发展趋势。随着封装集成密度的提高,微系统内部节点可访问性下降,如何实现微系统集成后高覆盖率的内部芯片的测试成为一个难题。dac/adc单元是数模混合微系统中的重要模块,作...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。