技术编号:20687497
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及eda技术领域,特别是涉及一种寄生参数结果正确性的判断方法。背景技术版图中寄生参数是集成电路设计和液晶面板设计中最为重要、最为关键的步骤,直接决定着整个集成电路设计过程的成败。在集成电路版图设计和液晶面板设计过程中,需要不断的对各个功能模块进行寄生参数提取并进行结果判断,提取的正确性以及精度直接决定着芯片或面板流片能否成功,因此需要对海量的寄生参数进行正确性及精度方面进行判断,而手工进行判断不仅浪费大量的时间,而且正确性也无法保证,一旦出现错误,将对芯片或面板的性能影响很大,甚至导致功...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。