技术编号：20719705
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及光学技术领域，例如涉及一种光学实验暗箱。背景技术目前，光学实验暗箱为光学实验提供环境和硬件基础，通常需要将光学元器件和光学测试器件安装在光学实验暗箱中，因而暗箱的结构对光学实验的精度有着重要影响。在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：由于光学元器件和光学测试器件安装在同一个箱体内，光学测试器件会受到杂散光的影响，从而影响测试精度。发明内容为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。