技术编号:20742167
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及曝光玻璃检测设备领域,尤其涉及暗室玻璃侧照检测仪。背景技术现有的曝光玻璃原片的选片方法,只要玻璃原片为进口光学级玻璃,在经过自然光下肉眼检测,在玻璃原片的表面内部没有划伤、黑点、气泡以及白点(凹点)即可满足大部分线路板生产的要求,现在这样的检测方法选出的线路板极易出现曝光不良,比如线路缺口等,原因就是因为玻璃原片内部很小的气泡在选片时没被检测出来,所以提供一种能够对玻璃内的不良进行检测的仪器显然很有必要。实用新型内容实用新型目的:为了解决背景技术中存在的不足,所以本实用新型公开了暗...
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