技术编号:20770801
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数据存储分析技术领域,具体涉及一种半导体存储器测试数据的存储方法及装置。背景技术半导体存储器是现代数字系统特别是计算机系统中的重要组成部件,随着半导体存储器的集成度越来越高,半导体器件颗粒的尺寸也越来越小,半导体器件发生故障率也随之增加,半导体存储器的测试数据也越来越多。本申请发明人在实施本发明的过程中,发现现有技术的方法,至少存在如下技术问题:现有技术中,测试工程师一般会将测试数据进行备份,现有的存储方式较为复杂,对读取所需的测试数据需要耗费大量的时间,不利于数据的查找。发明内容有鉴...
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