技术编号:20770827
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。相关申请的交叉引用通过引用,将2018年11月9日向韩国知识产权局提交的标题为“产生输出到半导体器件用于测试半导体器件的时钟的方法,以及包括该方法的时钟转换器和测试系统”的韩国专利申请第10-2018-0137602号的全部内容结合于此。实施例涉及一种产生输出到半导体器件用于测试该半导体器件的时钟的方法,以及执行该方法的时钟转换器和测试系统。背景技术随着电子工业和用户需求的快速发展,电子设备已经变得更加紧凑、高性能和大容量。因此,包括在电子设备中的半导体器件的测试过程也已经变得复杂。作为示例,高...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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