技术编号：20795352
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及器件老化测试领域，尤其涉及一种功率器件的老化测试装置。背景技术老化测试是把很多台装置放置于在一个封闭的环境中长期运行，其是功率半导体可靠性试验中必不可少的部分。目前常用的老化测试电路主要是boost电路(图1)和buck电路(图2)，使用电子负载或电阻来进行能量的施放。一方面，每个电阻负载都在消耗能量，装置数量多且测试时间长会造成很大的电能消耗，测试成本非常高，使用电子负载时，电子负载本身也是非常昂贵，另一方面，负载消耗的电能会转化成热量，会让测试环境的温升很高，不利于长时间老化试...
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