技术编号:20913532
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及超声探伤工具技术领域,尤其涉及一种可自动添加耦合剂手持tofd扫查架及设计方法。背景技术超声波衍射时差法(tofd,timeofflightdiffraction)是一种依靠从待检试件内部的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法,扫查架是tofd检测过程中必不可少的器具,其能够携带超声探头在被检测材料的表面移动,实现对被检测物体的超声扫查。目前普通扫查架一般需要操作人员事先在被检测对接接头扫查区进行耦合剂的手工涂抹,才能进行下一步的扫查作业。由于手工涂抹耦合剂无法确保涂层厚...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。