闪存编程参数确定方法、装置、电子设备及存储介质与流程技术资料下载

技术编号:20989731

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本申请涉及电子技术领域,尤其涉及一种闪存编程参数确定方法、装置、电子设备及存储介质。背景技术目前,nand闪存以其容量较大、改写速度快等优点在业界得到广泛的应用。为了充分挖掘存储单元的价值,nand闪存的编程方式也从单层单元(single-levelcell,简称slc)到双层单元(multi-levelcell,简称mlc),再到三层单元(triple-levelcell,简称tlc)。而随着编程方式的升级,各编程态的阈值电压也分布越来越靠近,进而导致相对的阈值电压分布容错余量减少,造成nan...
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