技术编号:21095461
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光电技术领域,特别是涉及一种芯片亮度值测试的方法及一种芯片亮度值测试的系统。背景技术典型的圆片上的倒装芯片在全波段亮度校正后按照亮度值范围贴在蓝膜上形成不同的方片,方片上芯片的亮度值整体出现低亮度值测试偏低,高亮度值测试偏高的现象,这种现象主要来自于相邻芯片在圆片与方片上的距离差异,将芯片按照在圆片上测试的亮度值分类贴在蓝膜上形成方片上之后,无法保证同一亮度范围的方片上的芯片的亮度值的一致性,这会影响终端客户使用产品的效果。发明内容基于此,有必要针对上述问题,提供一种新的芯片亮度值测试...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。