技术编号:21284252
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电磁测量技术领域,具体的说,是涉及一种基于空间分布的多探头天线测试设备。背景技术现有的多探头天线测试法实现过采样基本上都是在单个环形支架上均匀或者不均匀分布足够多的探头。随着当前测量需求的快速发展,测试系统需要的探头数量急剧增加。在有限空间的单个环形支架上安排大量的探头,将会面临诸多技术难题。其中之一就是探头安排过密产生的耦合问题,探头间的耦合效应严重影响测量系统的精确度。因此,如何恰当地布置大量探头以及如何实现探头间去耦,从而提高系统的测量精度和效率,是当前设计微波暗室等测量系统...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。