技术编号:21358295
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于fpga测试领域,具体涉及一种fpga可编程逻辑单元测试设备及使用方法。背景技术fpga中90%以上的逻辑功能都是由clb完成的。可编程逻辑单元测试包括功能测试和性能测试,clb的功能测试包括:slicem中的lut(16位寄存器,srlc16)功能测试、slicem中的分布式ram和存储器(单端口32x1位ram,双端口16x2位ram)功能测试、只读存储器(rom128x1)功能测试、触发器(d触发器/电平锁存器)、进位链测试、srl级联测试等。性能测试包括直流参数,交流参数测试,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。