技术编号：21369256
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及红外成像设备制备技术领域，特别是涉及一种红外盲元检测方法、装置及计算机可读存储介质。背景技术目前，制冷红外探测器工作在制冷的环境中，探测器在每次上电和断电过程中往往经历高低温之间的温度冲击。由于现有制作工艺和原材料的局限性，红外成像往往存在国军标gb/t17444-2013中描述的响应率小于平均响应率1/2的死像元和噪声电压大于平均噪声电压2倍的过热像元。其中，国军标中的无效像元也称为盲元，包括死像元和过热像元两种。在实际应用中，利用国军标中的通用判定条件无法实现所有盲元的判定，会存在...
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