技术编号：21404565
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片领域，尤其涉及芯片测试领域，具体是指一种实现芯片测试的系统及方法。背景技术芯片的测试设计，在管脚足够的情况下，一般会专门用一个脚作为测试使能，另选几个脚作为测试模式选择，根据不同测试模式，通过管脚打入所需激励，通过输出观察比较。在做dft的时候，只需运行脚本中定义好相应测试管脚，确认状态，读入的io库又是纯数字的标准io库，结构定义明确，工具便可自行插入扫描链，扫描链检查、覆盖率统计等。测试使能独立存在，测试模式管脚足够，使用的纯数字的标准io库，这类电路的可测性设计要基于管脚足够...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。