技术编号:21631162
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储的技术领域,特别涉及一种闪存芯片测试的应用领域,本发明的测试设备可以满足多数量的芯片同时在线测试,减少了测试的时间,提高生产效率。背景技术闪存只是对芯片存储速度特点的一种形容,芯片内存指的是存储器,闪存是一种非易失性存储器,即断电数据也不会丢失;是一种可以储存任何格式文件和数据的移动数据储存器,它小巧轻便,便于携带,可以说是一个小小的个人移动数据库。发明内容本发明所要解决的问题是:闪存芯片同时测试的数量少;多数量同时测试时不好取放的问题;测试设备大量的占用空间的问题。为了解决...
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