技术编号：21681251
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体测试领域，更具体地说是一种通用老化治具及老化设备。背景技术现有的半导体存储制造领域中,老化设备对ic存储产品进行老化。老化设备提供老化所需的温循环境，并通过硬件在上位机测试软件和测试产品之间建立通讯，以便在所需的温度环境中对ic产品进行老化测试。其中，测试老化治具便属于硬件组成中重要的一部分。老化治具安装在老化设备中，并提供连接器接口使老化板与老化设备上位机完成测试通讯。现有的老化治具包括分别适配于monoflash产品的老化治具和适配于emmc产品的老化治具，老化治具功能单一，...
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