技术编号：22323537
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本主题公开涉及耗散设备，并且更具体地，涉及用于量子应用中的耗散设备。背景技术基于超导的量子架构的性能可能在很大程度上取决于超导量子位的质量状态，其状态可以直接通过测量相干时间和量子位误差来表征。这些时间和错误可能在很大程度上取决于微波硬件在低温(例如，低温)下的性能。为了增加相干时间，应该对微波组件和相关的控制线进行加热，以减轻和/或减少从室温电子设备产生的热噪声量。例如，yeh等(美国专利申请公开号2017/0257074)讨论了一种超低温耗散设备，该设备“被配置为在一对接地平面之间具有中心导...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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