技术编号：22467957
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种集成电路测试方法与系统。背景技术集成电路(integratedcircuit,ic)完成制造后，需要对集成电路进行性能测试，从而筛选出不符合设计要求的集成电路，还可以进一步按照各项性能测试对合格集成电路进行分类。图1示出了现有技术第一实施例的集成电路测试方法的流程示意图。如图1所示，首先给dut(被测集成电路)110输入测试激励xi，然后在分析单元120中，将输出响应(即测试数据)yi与期望响应(即测试规范)ci进行比较，判断dut110是否满足设计要...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。