技术编号:22905309
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于直拉半导体硅单晶领域,尤其是涉及一种适用于红外测温仪的单晶炉观察窗装置。背景技术测量单晶炉的温度是通过测温仪采集单晶炉内的亮度,来显示单晶炉内的温度。单晶炉内的亮度是通过单晶炉上的观察窗来获得的,目前单晶炉观察窗用的玻璃都是高纯石英玻璃。当观察窗内若有碳毡或有其他杂质,测温仪将失去测温效果,成为摆设。该获取单晶炉温度的方式反应速度慢,延长了测量用时,影响生产进度。并且该方式只能用于测量直径较细的单晶,而大尺寸的单晶会导致热场增大,所测区域变小,使用该方式测量大尺寸单晶的温度不够准确...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。