技术编号：23019794
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于雷达天线罩制造技术领域，涉及一种雷达天线罩关键测试点的定位方法，具体涉及一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法。背景技术在雷达天线罩隐身性能测试过程中，为了减少反射达到最佳的隐身能状态，需要通过隐身性能测试标定雷达天线罩表面的最佳测试状态锯齿形关键点位。点位标定后需要在雷达天线罩表面进行打磨、变更涂层等工序改变罩体状态，在此过程中测试标出的关键点位会被覆盖而后续的性能测试中则需要复现之前的关键点位进行测试对照。当前在雷达天线罩体表面进行测试点位复现的方法是：喷漆前使用卡尺、角尺等测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。