技术编号:2302262
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学元件检测工具,尤其是涉及一种用于光学元件检测的三轴旋 转工作平台。背景技术作为一种重要的检测工具,三坐标测量机广泛应用在机械、汽车、航空、军工等行 业中,其检测对象可包括箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面、各种工具原 型、机器等中小型配件,可以对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密检测,从而完成零件 检测、外形测量、过程控制等任务。其结构是在三个相互垂直的方向上设有导向机构、测长 元件、数显装置,有一个能够放置工件的工作台...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。