一种基于高速FPGA核心的双模式辐射剂量仪的制作方法技术资料下载

技术编号:23568515

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本实用新型涉及辐射剂量仪领域,特别涉及一种基于高速fpga核心的双模式辐射剂量仪。背景技术作为使用时间最早、应用广泛的盖格计数器(简写gm计数器),它具有价格便宜、性能稳定、脉冲幅度大、使用简便等优点,但是盖格计数器也存在一些固有缺点,例如死时间、脉冲堆积、能量响应较差等问题。在一定的电压下,一定时间间隔内射入盖格计数器的粒子数目与辐射强度成正比。但在实际测量过程中,由于受死时间、脉冲堆积以及电子电路噪声等因素的影响,测量值会产生漏记,并不能真实地反应入射粒子的数目。在强辐射场下,漏计数问题愈实...
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