技术编号:23782779
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及离子束能谱分析器技术领域,具体涉及一种夹层式离子束能谱分析器。背景技术在工业和物理实验中,对离子源引出束中的离子能谱,放射源产生的带电粒子能谱,以及磁约束聚变等离子体中离子能谱的测量,主要利用不同能量的带电粒子在均匀电场和磁场中偏转轨道半径不同的原理在静电分析器和磁分析器中进行测量,h或者d粒子还可以运用不同能量的引出粒子的特征光谱(ha或者da)的多普勒效应(doppler effect)进行测量。静电分析器和磁分析器具有复杂、精密的空间结构,...
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