技术编号:24087867
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子材料测量技术领域,尤其涉及一种厚膜材料介电常数的测量夹具。背景技术材料的介电常数测量在通信、航天等相关技术领域有着十分重要的作用,其测量方法也一直是材料科学、生物电磁学、隐身技术等电磁场与微波工程等领域的重要研究课题。目前,在测量材料的介电常数时多利亚阻抗分析仪及配套的测量夹具实现,如图所示,是是德科技关于使用lcr表和阻抗分析仪测量介电常数,其通过将待测材料放入阻抗分析仪测量夹具腔体中,测量夹具放入待测材料前后夹具总体电容的变化与夹...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。