技术编号：24161182
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种芯片老化状态监测方法、装置及芯片。背景技术一些高性能服务器常规上很少关机，长时间处于高速运行状态，致使芯片(又称微电路，英文microcircuit，或者称微芯片，英文microchip，或者称集成电路，英文integrated circuit，简称ic)出现器件老化现象，导致器件电流生成能力的减弱。进而影响芯片芯片的正常工作频率，影响服务器性能。本申请的发明人在实现本发明创造的过程中发现：芯片的器件受到不同输入的刺激会导...
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