技术编号：24633866
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及元器件检测领域，特别是一种光模块高温测试工装。背景技术全球通信的快速发展极大地促进了光模块生产行业的崛起。光模块拥有极大的市场空间，能否在光模块行业拥有一席之地，不仅要靠光模块的质量，更需要光模块产量作为支撑。现有光模块测试方法不一，效果较好的方案是用高低温冲击试验箱进行测试。该方案测试模块时，将插好模块的测试板放入高低温冲击试验箱的出风管道口，并保证管道口与测试板上方接触区域密闭。然后对高低温冲击试验箱进行升温操作，当测试板检测到模块温度达到预设温度时开始测试。但采用高低温冲击试验箱...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。