技术编号:24753277
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及检测技术领域,具体涉及一种接线座多点位测试装置。背景技术.探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。现有探针结构一般都具有导电套管及设置在导电套管内的弹簧和导电探针,其中导电探针的一端裸露在导电套管外部,用以与待测产品接触。.在通过接线座进行导线的连接时,往往需要对导电体进行导电性能的测试,一般会采用探针对连接座进行多点位的测试;在探针的使用中,如果探针的长度过长会导致电流通过的路径较长,电阻变大,从而使得检测精度降低,因此为了保证一定的测量精度,需要使探针长度尽...
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