技术编号:24981180
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片制造技术领域,具体为一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置。背景技术芯片一种微型电子器件或部件,作用集成电路的载体安装于各种电子设备的内部。芯片在制造的过程中,需要对芯片成品进行综合测试及各种电流电压的测试,以此来确定芯片的性能是否达标。目前对芯片进行检测时,通常有工作人员借助电气检测箱对其进行检测。由于芯片较小,在检测的过程中,非常容易发生移动,影响检测操作的进行,并且对其进行双面检测时,需要工作人员对其进行翻转,操作不够便捷,工作效率比较低,同时芯片的构造大多较为复杂...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。