技术编号：25507752
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种防呆结构，特别是涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域。背景技术集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，而在芯片的生产制作完成之后需要对芯片进行测试，通过测试压块与芯片的引脚接触进行检测，为确保测试的精确需要进行防呆设计，防呆是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直觉无误完成正确的操作；但现有的防呆结构测试压头机构位置固定，无法根据不同大小的...
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