技术编号:25717133
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及自动化ic测试分选设备领域,具体为一种自动化ic测试分选设备。背景技术自动化ic测试分选设备是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上,做成一块芯片,集成电路芯片在出厂前必须经过严格测试,测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数,人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来,并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类,随着科技不断发展人们对于此分选设备的制造工艺要求也越来越高。现有的自动化ic测试分选设备在安装使用时,存在着一定的弊端,传统的ic测试分选设备在使用过程中...
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