技术编号：25730653
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法。背景技术红外器件，工作于0.75～1000微米（μm）波长范围内的器件。包括红外发光器件和红外探测器件两大类。常见的红外发光器件有红外发光二极管和红外激光器，红外发光二极管处于正偏时，由于空穴和电子的复合而产生红外光辐射，各种激光器包括固体激光器、气体激光器、半导体激光器和染料激光器等，都能产生红外光，红外发光二极管和半导体激光器通常都是由ⅲ-ⅴ族化合物半导体材料做成，红外探测器件种类繁多，常见者有光电导检测器、光磁电检...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。