技术编号：25730665
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体技术领域，具体的说是一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法。背景技术当自动测试机运行时，需要准确的时间信息来设置发送信号和接收输入信号。然而因为电路设计或者器件的原因，导致每个通道上的信号延迟不一样，这就需要自动测试机对通道上的信号传输时间进行校准，校准后的各通道信号到达测试机末端时刻是相同的。发明内容本发明为克服现有技术的不足，提供一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，利用自动测试机上的现有条件对其通道进行自校准，以提高自动测试机工作的精准度。为实现上...
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