技术编号：25973823
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及导热膜生产技术领域，具体而言，涉及一种导热膜散热性能测试装置。背景技术温度是影响电子产品可靠性的一项重要环境因素，电子器件温度每上升10℃，其故障率约提高一倍，过高的温度使电子产品失效率大幅增加。随着电子器件向小型化、高功率密度、多功能化的方向发展，使得相关电子器件的过热风险持续提升，散热材料的散热性能的好坏直接影响电子元件能否正常工作和使用寿命，因此需要对散热材料的散热性能进行测试。目前电子设备主要采用导热膜进行散热，常用的散热性能测试方法中，环境温度对测试结果影响较大，导致测试结果...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。