技术编号：25999255
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及元器件失效分析技术领域，尤其涉及一种用于片式薄膜电阻的失效定位方法和装置。背景技术片式薄膜型电阻是在混合电路小型化和智能化发展的需求上应运而生的产物，是在矩形的al2o3基片上，涂敷氧化钌、镍铬合金等电阻层，两端制成ag/ni/sn-pb等与外部相连的端电极的结构。薄膜电阻的基体为al2o3陶瓷基体，电阻层表面有一层保护层：玻璃釉，玻璃釉上为树脂等二层保护层。陶瓷材料是在650℃左右高温烧结而成，玻璃釉材料要在更高的温度下还原成型，所以这两种封装材料没有较好的去除方法，目前在国内检测机...
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