形成覆盖的金属化通孔的方法与流程技术资料下载

技术编号:26010373

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本申请要求2018年12月6日提交的系列号为62/776101的美国临时申请的优先权权益,本文以该申请的内容为基础并通过引用将其全部结合入本文。本公开涉及制品中的通孔,更具体地,涉及包括盖的穿过制品的金属化通孔。背景技术贯穿孔连接能够实现基于薄硅通孔(tsv)和薄玻璃通孔(tgv)的技术,这些技术提供了高的封装密度、减少的信号路径、宽的信号带宽、更低的封装成本和小型化系统。可用于用铜填充通孔的常规过程包括糊料填充过程和电镀过程。已经努力用铜填充通孔以确保与封装和开关相关的应用的气密性。除了在形成...
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