技术编号：26101620
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明适合于一种例如测定电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头。背景技术近年来，伴随着毫米波雷达的普及，以高精度来测定毫米波等作为高频波的电磁波的空间分布状态(1维、2维、3维中的振幅或相位、强度、频率等)的必要性高涨。因此，周知有下述的方法，即，使用所谓的电光晶体来测量电磁波的空间分布状态，电光晶体发挥光与受到电磁波影响的物质相作用而产生的电光效应(例如参照专利文献1)。另外，还提出有如下所述的方法，即，通过使用2个电光晶体进行的差分测定，而不使用测量对象电磁波的同步信号来对电磁波的空间分布状...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。