技术编号:26142565
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种电子元器件批量检测的方法,尤其是基于深层神经网络的电子元器件批量信息检测方法及系统。背景技术现今社会,电子元器件的地位非常重要,应用范围也越来越大。以元器件为例,随着科学技术的飞速发展,其使用数量随之暴增。不论对于哪种电子元器件而言,在生产出来后都需要对其进行内核、外设电路等进行封装及测试,最终再将这些检测结果与元器件表面所印有的型号、批次等信息进行绑定。这样就能在元器件发生故障的情况下及时进行排查、溯源等工作,从而使得电子元器件在工业生产的各个环节都能得到有力的保障。但元器件生产...
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