技术编号:26146167
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及馈源网络损耗测量技术领域,特别是指一种测量双反射面天线馈源网络损耗的方法。背景技术常见的双反射面天线有卡塞格伦天线、环焦天线和格里高利天线。双反射面天线因其具有高增益、低旁瓣和低交叉极化等性能,广泛应用于卫星通信、射电天文、深空探测等领域。双反射面天线一般由副反射面、主反射面、馈源网络和天线座架组成。馈源网络是双反射面天线的心脏,其性能好坏直接影响双反射面天线的性能。表征馈源网络性能参数有:馈源网络方向图、电压驻波比、损耗和交叉极化等。损耗是馈源网络非常重要的指标,馈源网络损耗通常很小...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。