技术编号:26552395
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及到芯片测试领域,尤其涉及一种待测芯片的模数转换校准方法及系统。背景技术.随着数字技术在信号处理、控制等领域中的广泛应用,过去由模拟电路实现的工作,现今越来越多地由数字电路来处理,相应地,adc用于实现模拟电路技术与数字电路技术之间的转换的技术,也越发广泛地被应用。.例如,在mcu、soc、视频等芯片的测试过程中,也经常采用adc,以实现芯片的高精度检测和校准。.但是现有技术中,由于生产工艺误差,使芯片的一致性很难得到保障,导致adc测试时无法获取准确的测试结果,进而导致校准后...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。