技术编号：26588954
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及光学折射率传感领域，特别涉及一种基于四矩形硅柱结构的全介质超表面折射率传感器。背景技术.光学折射率传感器被广泛用于物理化学、生物医药、食品加工等方面的折射率测量，受到了研究者们的广泛关注。通常情况下，折射率传感器的灵敏度定义为单位折射率的共振波长变化，即：s＝δλ/δn,品质因数则是灵敏度与半高全宽的比值(fom＝s/fwhm)。当下人们对于折射率传感器的研究主要集中在金属基础的等离子体结构和介质基础的结构中,然而，由于金属结构中自由电子震荡导致了很强的辐射损耗，金属结构的品质因...
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