技术编号：26666333
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种基于传输门的射频信号发生系统及方法。背景技术.根据集成电路电磁抗扰度标准iec，常见芯片抗扰度测量方法包括：tem小室和宽带tem小室法、大电流注入法、射频功率直接注入法(dpi)及工作台法拉第笼法。其中典型的dpi法测试结构如图所示，射频信号发生器产生的射频信号经功率放大器放大，传导至芯片注入端对待测芯片(dut)的引脚处电压进行干扰，并利用定向耦合器观测注入射频功率值。对射频干扰信号进行扫频，记录待测芯片在每个频点的临界失效功率，可以得到...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。